ISSN 1004-4140
CN 11-3017/P

Philips磁共振射频软故障的检修与分析

刘宏, 刘颖

刘宏, 刘颖. Philips磁共振射频软故障的检修与分析[J]. CT理论与应用研究, 2001, 10(3): 39-41.
引用本文: 刘宏, 刘颖. Philips磁共振射频软故障的检修与分析[J]. CT理论与应用研究, 2001, 10(3): 39-41.
Liu Hong, Liu Ying. Detecting A Soft Trouble of Philips MRI RF Amplifier[J]. CT Theory and Applications, 2001, 10(3): 39-41.
Citation: Liu Hong, Liu Ying. Detecting A Soft Trouble of Philips MRI RF Amplifier[J]. CT Theory and Applications, 2001, 10(3): 39-41.

Philips磁共振射频软故障的检修与分析

详细信息
    作者简介:

    刘宏,男,1968-06月出生,1990年毕业于中国矿业大学自动化系,获学士学位;毕业后,参加江苏省徐州医学院附属医院放射科的影像技术工作,现担任工程师。

Detecting A Soft Trouble of Philips MRI RF Amplifier

  • 摘要: Philips T5-NT磁共振设备中的射频放大器出现了偏流超出正常值的软故障,经过测试软件测试,以及进行最大功率调节等处理,最终判定功率放大部件故障,并由替代法证实。
    Abstract: A soft trouble of Philips MRI RF amplifier occurred with message -'Bias current out of range' on operating console screen, and the scan stopped. After checking the RF amplifier by 'Test Software', and adjusting maximum RF power, the malfunction unit-RF power amplifier board was found, and it was proved by replaced the board.
计量
  • 文章访问数:  593
  • HTML全文浏览量:  5
  • PDF下载量:  3
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2001-05-07
  • 网络出版日期:  2022-12-28

目录

    /

    返回文章
    返回
    x 关闭 永久关闭